تست Decapsulation و تحلیل Die روی قطعات الکترونیکی تأمین‌شده توسط پارس پرداز

مقدمه: اهمیت Decapsulation و تحلیل Die

در صنایع الکترونیک پیشرفته، تحلیل داخلی قطعات برای اطمینان از کیفیت، عملکرد و مطابقت با مشخصات سازنده ضروری است. دو روش کلیدی در این زمینه عبارتند از: Decapsulation و Die Analysis.

شرکت پارس پرداز پس از تأمین قطعات، برای تحلیل دقیق و اعتبارسنجی ساختاری و عملکردی، آن‌ها را به آزمایشگاه‌های معتبر خارجی ارسال می‌کند. این فرآیند به ویژه برای صنایع حساس مانند پتروشیمی، نیروگاه، هوافضا و صنایع دفاعی اهمیت دارد.

Decapsulation (باز کردن پوشش قطعه)

تعریف: فرآیندی که در آن پوشش پلاستیکی یا رزینی قطعه (IC یا ماژول) باز می‌شود تا ساختار داخلی تراشه قابل مشاهده گردد.

هدف:

بررسی کیفیت لحیم‌کاری داخلی و اتصالات BGA/SMD

شناسایی نقص‌های تولیدی یا خرابی‌های احتمالی

آماده‌سازی برای تحلیل Die و تست‌های میکروسکوپی

روش :

روش شیمیایی: استفاده از محلول‌های ویژه برای حل پوشش رزینی

روش مکانیکی یا لیزری: باز کردن فیزیکی پوشش بدون آسیب رساندن به Die

Die Analysis (تحلیل تراشه داخلی)

تعریف: بررسی ساختار داخلی تراشه پس از Decapsulation برای تشخیص کیفیت سیلیکون، اتصالات و عملکرد مدارات داخلی.

اهداف اصلی:

تشخیص عیوب ساختاری یا فنی تراشه

تحلیل دقیق اتصالات بین Die و پایه‌ها

بررسی پایداری و کیفیت مواد داخلی

ابزارهای مورد استفاده:

میکروسکوپ نوری و الکترونی (SEM)

تصویربرداری فلورسانس و X-ray

تحلیل ولتاژ و جریان داخلی

کاربردهای عملی:

تأیید کیفیت قطعات وارداتی: شناسایی تراشه‌های غیر استاندارد پیش از مونتاژ.

کنترل کیفیت قطعات داخلی: تضمین عملکرد صحیح بردها و ماژول‌های تولیدی.

پیشگیری از خرابی: تشخیص نقاط ضعف قبل از ورود به خطوط تولید.

تحلیل علمی و مهندسی: ارائه داده‌های دقیق برای طراحی و اصلاح فرآیند تولید.

مزایای انجام Decapsulation و Die Analysis

اطمینان از عملکرد واقعی قطعات: شناسایی عیوبی که در تست‌های خارجی یا عملکردی قابل مشاهده نیستند.

پشتیبانی از تولید داخلی و مونتاژ: اطمینان از اینکه قطعات تأمین‌شده کاملاً استاندارد و قابل اطمینان هستند.

کاهش ریسک پروژه‌ها: پیشگیری از خرابی مدار و تجهیزات حساس در صنایع حیاتی.

ارتقاء سطح کیفیت و اعتماد مشتریان: ارائه محصول با تضمین کیفیت داخلی و بین‌المللی.

نتیجه‌گیری:

تست‌های Decapsulation و Die Analysis بخشی حیاتی از فرآیند کنترل کیفیت قطعات الکترونیکی تأمین‌شده توسط پارس پرداز هستند. با اجرای این تست‌ها در آزمایشگاه‌های معتبر خارجی، شرکت قادر است اطمینان دهد که قطعات:

از نظر ساختاری و عملکردی استاندارد و قابل اعتماد هستند

هیچ عیب تولیدی یا خرابی داخلی ندارند

برای استفاده در سیستم‌های حساس صنعتی و کنترل اتوماسیون مناسب‌اند

این فرآیند باعث می‌شود صنایع داخلی بتوانند با اطمینان کامل از کیفیت قطعات، آن‌ها را در پروژه‌های خود به کار گیرند و ریسک خطا یا خرابی کاهش یابد.